Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/49016
Название: HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов
Другие названия: HDL-модель пам’ятi RAM з вбудованою схемою генерацiї неруйнуючих тестів
HDL-model of memory RAM with nondestructive test generator inside
Авторы: Малиновский, М. Л.
Аленин, Д. А.
Барсов, В. И.
Сидоренко, А. В.
Дата публикации: 2011
Издательство: Харків: ХНТУСГ
Библиографическое описание: Малиновский М. Л., Аленин Д. А., Барсов В. И., Сидоренко А. В. HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов. Вісник Харківського національного технічного університету сільського господарства, Вип 117: «Проблеми енергозабезпечення та енергозбереження в АПК України». 2011. С.
Серия/номер: Вісник Харків. нац. техн. ун-т сіл. госп-ва ім. П. Василенка;№ 117
Краткий осмотр (реферат): Предложена HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов, которая позволяет повысить эффективность проектирования цифровых систем для ответственных приложений.
Запропоновано HDL-модель пам’яті RAM з вбудованою схемою генерації неруйнуючих тестів, котра дозволяє підвищити ефективність проектування цифрових систем для відповідальних застосувань.
We propose the HDL-model of memory RAM with an integrated scheme of generation of nondestructive testing, which improves the efficiency of designing digital systems for critical application.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/49016
ISBN: 5-7987-0176X
Располагается в коллекциях:Випуск 117: Проблеми енергозабезпечення та енергозбереження в АПК України

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Visnyk_117_2011_41.pdf321 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.