1. Repository (electronic archive of open access) of the State Biotechnological University
  2. 05. Наукові видання ДБТУ
  3. Вісник Харківського національного технічного університету сільського господарства ім. П. Василенка
  4. 2011
  5. Випуск 117: Проблеми енергозабезпечення та енергозбереження в АПК України
Please use this identifier to cite or link to this item: https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/49016
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМалиновский, М. Л.-
dc.contributor.authorАленин, Д. А.-
dc.contributor.authorБарсов, В. И.-
dc.contributor.authorСидоренко, А. В.-
dc.date.accessioned2024-03-14T12:43:02Z-
dc.date.available2024-03-14T12:43:02Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationМалиновский М. Л., Аленин Д. А., Барсов В. И., Сидоренко А. В. HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов. Вісник Харківського національного технічного університету сільського господарства, Вип 117: «Проблеми енергозабезпечення та енергозбереження в АПК України». 2011. С.uk_UA
dc.identifier.isbn5-7987-0176X-
dc.identifier.urihttps://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/49016-
dc.description.abstractПредложена HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов, которая позволяет повысить эффективность проектирования цифровых систем для ответственных приложений.uk_UA
dc.description.abstractЗапропоновано HDL-модель пам’яті RAM з вбудованою схемою генерації неруйнуючих тестів, котра дозволяє підвищити ефективність проектування цифрових систем для відповідальних застосувань.uk_UA
dc.description.abstractWe propose the HDL-model of memory RAM with an integrated scheme of generation of nondestructive testing, which improves the efficiency of designing digital systems for critical application.uk_UA
dc.language.isootheruk_UA
dc.publisherХарків: ХНТУСГuk_UA
dc.relation.ispartofseriesВісник Харків. нац. техн. ун-т сіл. госп-ва ім. П. Василенка;№ 117-
dc.titleHDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестовuk_UA
dc.title.alternativeHDL-модель пам’ятi RAM з вбудованою схемою генерацiї неруйнуючих тестівuk_UA
dc.title.alternativeHDL-model of memory RAM with nondestructive test generator insideuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Випуск 117: Проблеми енергозабезпечення та енергозбереження в АПК України

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Visnyk_117_2011_41.pdf321 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.