Please use this identifier to cite or link to this item: https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/49016
Title: HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов
Other Titles: HDL-модель пам’ятi RAM з вбудованою схемою генерацiї неруйнуючих тестів
HDL-model of memory RAM with nondestructive test generator inside
Authors: Малиновский, М. Л.
Аленин, Д. А.
Барсов, В. И.
Сидоренко, А. В.
Issue Date: 2011
Publisher: Харків: ХНТУСГ
Citation: Малиновский М. Л., Аленин Д. А., Барсов В. И., Сидоренко А. В. HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов. Вісник Харківського національного технічного університету сільського господарства, Вип 117: «Проблеми енергозабезпечення та енергозбереження в АПК України». 2011. С.
Series/Report no.: Вісник Харків. нац. техн. ун-т сіл. госп-ва ім. П. Василенка;№ 117
Abstract: Предложена HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов, которая позволяет повысить эффективность проектирования цифровых систем для ответственных приложений.
Запропоновано HDL-модель пам’яті RAM з вбудованою схемою генерації неруйнуючих тестів, котра дозволяє підвищити ефективність проектування цифрових систем для відповідальних застосувань.
We propose the HDL-model of memory RAM with an integrated scheme of generation of nondestructive testing, which improves the efficiency of designing digital systems for critical application.
URI: https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/49016
ISBN: 5-7987-0176X
Appears in Collections:Випуск 117: Проблеми енергозабезпечення та енергозбереження в АПК України

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Visnyk_117_2011_41.pdf321 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.