Please use this identifier to cite or link to this item: https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/54709
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЛитвиненко, В. М.-
dc.date.accessioned2024-06-12T09:52:48Z-
dc.date.available2024-06-12T09:52:48Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.citationЛитвиненко В. М. Поліпшення зворотних характеристик діода Шотткі при використанні гетерування. Технічний прогрес в АПВ: Матеріали Міжнародної науково-практичної конференції, 21-22 травня 2024 р. Харків: ДБТУ, 2024. С. 289-291.uk_UA
dc.identifier.urihttps://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/54709-
dc.description.abstractРозглянуто причини і механізми впливу дефектів і домішок на зворотні струми діода Шотткі. Наведено експериментальні результати впливу операцій гетерування дефектів і домішок на рівень зворотних струмів діодів. Проаналізовано механізми впливу операцій гетерування на зворотні струми діодів.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherХарків: ДБТУuk_UA
dc.titleПоліпшення зворотних характеристик діода Шотткі при використанні гетеруванняuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Матеріали Міжнародної науково-практичної конференції "Технічний прогрес в АПВ"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
MMNPK_Tehnichnyj_progres_v_APV_2024-289-291.pdf177.74 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.