Please use this identifier to cite or link to this item:
https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/54709
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Литвиненко, В. М. | - |
dc.date.accessioned | 2024-06-12T09:52:48Z | - |
dc.date.available | 2024-06-12T09:52:48Z | - |
dc.date.issued | 2024 | - |
dc.identifier.citation | Литвиненко В. М. Поліпшення зворотних характеристик діода Шотткі при використанні гетерування. Технічний прогрес в АПВ: Матеріали Міжнародної науково-практичної конференції, 21-22 травня 2024 р. Харків: ДБТУ, 2024. С. 289-291. | uk_UA |
dc.identifier.uri | https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/54709 | - |
dc.description.abstract | Розглянуто причини і механізми впливу дефектів і домішок на зворотні струми діода Шотткі. Наведено експериментальні результати впливу операцій гетерування дефектів і домішок на рівень зворотних струмів діодів. Проаналізовано механізми впливу операцій гетерування на зворотні струми діодів. | uk_UA |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | Харків: ДБТУ | uk_UA |
dc.title | Поліпшення зворотних характеристик діода Шотткі при використанні гетерування | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Матеріали Міжнародної науково-практичної конференції "Технічний прогрес в АПВ" |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
MMNPK_Tehnichnyj_progres_v_APV_2024-289-291.pdf | 177.74 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.