Please use this identifier to cite or link to this item:
https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/52208
Title: | Анализ износостойкости восстановительных покрытий, нанесенных наплавкой и упрочненных поверхностным деформированием |
Other Titles: | Аналіз зносостійкості відбудовних покрить, нанесених наплавленням і зміцнених поверхневим деформуванням The analysis of wear resistance of the regenerative coverings put and strengthened by superficial deformation |
Authors: | Сидашенко, А. И. |
Issue Date: | 2006 |
Publisher: | Харків: ХНТУСГ |
Citation: | Сидашенко А. И. Анализ износостойкости восстановительных покрытий, нанесенных наплавкой и упрочненных поверхностным деформированием. Вісник Харк. нац. техн. ун-ту сіл. госп-ва ім. П. Василенка: зб. наук. пр. Харків: ХНТУСГ, 2006. Вип. 42: Технічний сервіс АПК, техніка та технології у с.-г. машинобудуванні. С. 74-78. |
Series/Report no.: | Вісник Харківського нац. техн. ун-ту сіл. госп-ва ім. П. Василенка;№ 42 |
Abstract: | Выполнены сопоставительные исследования восстановления деталей на плавкой с последующей обработкой ВТМО и ВТМО, совмещенной с НТМО. По казано, что применение упрочняющих обработок обеспечивает снижение из носа на 9 и 24% соответственно. Виконано порівняльні дослідження відновлення деталей на-плавкою з наступною обробкою ВТМО і ВТМО, сполученої з НТМО. Показано, що застосування упрочняющих обробок забезпечує зниження з-носа на 9 і 24% відповідно. Comparative researches o f restoration o f details with subsequent processing BTMO and BTMO, combined with HTMO are executed. It is shown, that application o f strengthening processings provides decrease o f deterioration on 9 and 24 % accordingly. |
URI: | https://repo.btu.kharkov.ua//handle/123456789/52208 |
Appears in Collections: | Статті |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Sidashenko_Analiz_iznosostoykosti_2006_42_74-78.pdf | 285.3 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.